近日，沙特基础工业公司（SABIC）推出了LNP™ KONDUIT™ 8TF36E改性料。这是一款新型特种材料，可使用于双倍数据速率（DDR）内存集成电路（ICs）应力测试的老化测试插座 (BiTS)，可满足测试期间严苛的性能要求。

图片来源于SABIC官方网站

DDR内存集成电路能在每一个时钟周期内传输两次数据，加快了数据传输速度，从而满足游戏、人工智能等数据密集型应用的高通量需求。测试插座必须适应更高的电压和温度环境、越来越小的外形尺寸和更多的引脚。也就是说，用于DDR 内存集成电路的BiTS设计需要具有高精度、高耐久性和可操作性。

SABIC的这款全新改性料具有极高的流动性，有助于实现复杂、小型化的BiTS设计；其出色的尺寸稳定性和耐高温性可在测试过程中提高BiTS的性能表现；高导热能力有助于测试后迅速散热。与导热填充尼龙等现有材料相比，LNP KONDUIT 8TF36E改性料具有更高的流动性和更好的尺寸稳定性。

在测试过程中，它可以承受150°C的典型测试温度，同时保持良好的尺寸稳定性，提高测试准确性。此外，这种改性料可以耐受高达260°C的极端高温，为将来BiTS更高的温度环境奠定基础，这种耐高温特性未来有望使BiTS在不进行降解的情况下被重复利用。为了实现测试后的快速散热，这款新材料还具有高达4.5W/m.k的高热导率，可使用于BiTS组件中的锁扣和适配器等固定结构件。

SABIC亚太区配方与应用总监王勤（Jenny Wang）表示：“内存芯片技术的进步对BiTS提出了新的要求。随着DDR内存集成电路功率的增加，温度控制对于验证BiTS系统中所有器件在可靠性测试中，是否受到一致的应力至关重要。我们的新型LNP KONDUIT材料除了拥有优异的导热性，还提供了有助于测试成功的其他关键特性。”

近日，沙特基础工业公司（SABIC）推出了LNP™ KONDUIT™ 8TF36E改性料。这是一款新型特种材料，可使用于双倍数据速率（DDR）内存集成电路（ICs）应力测试的老化测试插座 (BiTS)，可满足测试期间严苛的性能要求。

图片来源于SABIC官方网站

DDR内存集成电路能在每一个时钟周期内传输两次数据，加快了数据传输速度，从而满足游戏、人工智能等数据密集型应用的高通量需求。测试插座必须适应更高的电压和温度环境、越来越小的外形尺寸和更多的引脚。也就是说，用于DDR 内存集成电路的BiTS设计需要具有高精度、高耐久性和可操作性。

SABIC的这款全新改性料具有极高的流动性，有助于实现复杂、小型化的BiTS设计；其出色的尺寸稳定性和耐高温性可在测试过程中提高BiTS的性能表现；高导热能力有助于测试后迅速散热。与导热填充尼龙等现有材料相比，LNP KONDUIT 8TF36E改性料具有更高的流动性和更好的尺寸稳定性。

在测试过程中，它可以承受150°C的典型测试温度，同时保持良好的尺寸稳定性，提高测试准确性。此外，这种改性料可以耐受高达260°C的极端高温，为将来BiTS更高的温度环境奠定基础，这种耐高温特性未来有望使BiTS在不进行降解的情况下被重复利用。为了实现测试后的快速散热，这款新材料还具有高达4.5W/m.k的高热导率，可使用于BiTS组件中的锁扣和适配器等固定结构件。

SABIC亚太区配方与应用总监王勤（Jenny Wang）表示：“内存芯片技术的进步对BiTS提出了新的要求。随着DDR内存集成电路功率的增加，温度控制对于验证BiTS系统中所有器件在可靠性测试中，是否受到一致的应力至关重要。我们的新型LNP KONDUIT材料除了拥有优异的导热性，还提供了有助于测试成功的其他关键特性。”