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MAAG与SIKORA首次联合亮相CHINAPLAS
MAAG Group与已完成收购的西科拉（SIKORA）携手亮相CHINAPLAS 2026，这是两家企业在中国市场的首次联合展出。
本次联袂参展凸显了集团的整体战略布局，双方将为客户提供聚合物加工集成系统与全方位质量控制解决方案，产品覆盖熔体泵、过滤器、切粒系统、回收设备，以及管材生产测量控制系统、塑料颗粒检测与分选技术等领域。
聚合物加工集成系统解决方案
MAAG带来了新一代M² USG水下切粒系统。该系统通过结构优化与传感器升级，进一步提升工艺稳定性、产能及粒料品质，核心目标是实现99%以上的设备综合效率与连续稳定生产，有效减少停机时间与废品率，降低运营成本。其全新设计的切粒刀头，在提升操作便捷性与维护便利性的同时，降低了人为操作失误风险。
在塑料回收领域，MAAG展示了连续式熔体过滤器。其中ERF 350型号处理能力可达每小时3,800公斤，可处理污染率高达16%的物料，依靠旋转滚筒实现杂质过滤与连续刮除；ERF系列共四款机型，处理量覆盖150–10,000公斤/小时；另有四款ECO型号，适用于 PET 等低污染物料的回收应用。
此外，MAAG还展出了BAOLI 3拉条切粒机。该设备适用于改性配混与回收工况，核心部件均为德国制造，共三款机型，处理量覆盖20–3450公斤/小时，具备粒料品质优良、使用寿命长、噪音低、操作简便、安装灵活等优势。
全方位质量检测系统解决方案
西科拉本次展出多款检测与测量设备。其中，PURITY CONCEPT V离线式随机抽样检测分析系统可对颗粒、薄片及测试样品进行检测，通过光学成像技术识别最小50μm的杂质，一分钟内即可完成检测，并生成详细报告与HSV色谱图，为产品质量安全提供可靠保障。
PURITY CONCEPT V离线式随机抽样检测分析系统可采用光学成像技术，对颗粒、薄片及测试样品进行检测。
针对高性能塑料领域，西科拉带来PURITY SCANNER ADVANCED检测分选系统。该系统可灵活适配多种应用场景，凭借高精度成像技术检测最小25μm的黑点杂质，配合X射线成像实现金属杂质检测，并结合组合式吹除技术，可按杂质类型自定义剔除模式，在减少洁净原料浪费的同时提升经济效益。
在管材生产领域，CENTERWAVE 6000测量系统可安装在生产线真空箱后方，采用毫米波技术非接触式测量外径32–1600mm的管材，通过旋转式收发器实现圆周高精度检测，助力企业降低原料消耗与生产成本。
X-RAY 6000 PRO系统则运用X射线技术，对多层管材、软管进行壁厚、偏心度及内外径测量，可灵活布置在生产线不同位置，实现最小壁厚精准控制，有效节约生产用料。
展台：2.1J61
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